菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd

• 更新時間：2021-02-23
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菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。

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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時可測元素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。為了使每次測量都能在*佳激勵條件下進(jìn)行，XDV-SDD配備了可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。

        XDV-SDD測量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺完成。操作很人性化，測量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。測量位置的準(zhǔn)確設(shè)定可以很方便地通過高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成，攝像頭可以在操作時準(zhǔn)確顯示測量位置。激光點作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設(shè)計使得XDV-SDD是研發(fā)、過程控制和實驗室的理想選擇。同時基于其健壯設(shè)計和用戶友好，它也是*和生產(chǎn)監(jiān)控*不可少的設(shè)備。

特征：

• ?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
• ?*高工作條件： 50 kV, 50W
• ?X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
• ?準(zhǔn)直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm
• ?基本濾片：6個，可自動切換
• ?帶彈出功能的可編程XY平臺
• ?視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)設(shè)計獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

• 測量超薄鍍層，例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
• 痕量分析，例如按照RoHS，玩具和包材指
• 令檢測有害物質(zhì)
• 高精度黃金和貴金屬分析
• 光伏行業(yè)
• 測量NiP層的厚度和成分

應(yīng)用實例 :

法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如，測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等。

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